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EXF-5700CX 镀层测厚分析仪

产品/服务:
有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-07-31 08:39
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“EXF-5700CX 镀层测厚分析仪”参数说明

是否有现货: 加工定制:
品牌: 国产 测量范围: 硫(s)到铀(u)
测量对象: 元素 测量精度: Ppm
尺寸: 670(w)X470(d)X370 (h 重量: 60kg
适用范围: 元素分析 型号: Exf-5700cx
规格: 商标: 国产
包装: 木箱

“EXF-5700CX 镀层测厚分析仪”详细介绍

  产品说明、技术参数及配置:

仪器介绍:

EXF-5700CX是专门研发用于镀层行业的一款仪器,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点:

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.2mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.01mm

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

技术指标:

型号:EXF-5700CX

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9%。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸:670(W)x470(D)x370(H)mm

样品腔尺寸:520(W)mm×370(D)mm×105(H)mm

重量:60kg

标准配置:

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测。

金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。 

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